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  • 芯片可靠性测试

    产品型号:

    芯片可靠性测试QTG20-CL是一款用于非接触式智能卡模块/条带的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备,与CSCSTG1001智能卡测试平台配合使用,为非接触式智能卡提供了可靠性测试解决方案。
  • 芯片测试机

    产品型号:

    芯片测试机是一种功能测试系统(FTG),针对于EEPROM/FLASH产品测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。
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