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20路非接卡可靠性测试设备

20路非接卡可靠性测试设备

  • 型   号:QTG20-CL
  • 价   格:28000

QTG20-CL是一款用于非接触式智能卡模块/条带的高低温寿命测试和早期失效率评估测试的硬件设备,与CSC STG1001智能卡测试平台配合使用,为非接触式智能卡提供了可靠性测试解决方案。(20路非接卡可靠性测试设备)

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产品特性:
          > 支持20路非接触式智能卡模块同时测试
          > 特制测试座,支持XOAR2、双界面条带/模块等多种封装
          > 输入1路USB口,内置20路USB转UART口,配合上位机软件可实现20路并行通信
          > 内置20路PCSC非接触读卡器,支持标准14443TYPEA/TYPEB协议,且相互隔离
          >  输出13.56MHz调制正弦波,电压幅度3.5V~6V可调;
          >  使用50PIN高温插座,含20对屏蔽线(耐高温125C)
          >  子板集成20路非接触卡模块测试座

 

详细资料请咨询: 或邮件:Support@cscmatrix.com

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