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可靠性测试系统-存储器芯片

可靠性测试系统-存储器芯片

  • 型   号:FTG16
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可靠性测试系统-存储器芯片FTG16可编程测试系统是一种功能测试系统( FTG),针对于 EEPROM/FLASH 产品测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具

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可靠性测试系统-存储器芯片产品特性:
 脚本管理测试用例/底层协议,不需学习 ARM/FPGA 编程;
 测试脚本可下载到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;
 单板 16 个数字通道(可定制), 个可调电源, 个可调时钟;
 支持 *4 =16 个 SPI 接口同测;
 电压可编程, 0V~5.5V,精度+/-10mV;;
 测试时钟可编程,40MHz;
 测试脚本可编程;
 固件缓存可存储 10K 条命令,支持循环命令,支持连续下载测试脚本;
 固件含 512 条错误存储空间;
 可在线调试;
 独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;
 
可靠性测试系统-存储器芯片可在线升级 FPGA 固件,以适用不同产品测试;
 USB 接口与 PC 机通信

 

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