返回首页 在线留言 联系我们

产品中心

老化测试

老化测试

  • 型   号:
  • 价   格:

老化测试是一种功能测试系统( FTG),针对于 EEPROM/FLASH 产品测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。

分享到:

老化测试是一种功能测试系统(FCT),针对于芯片样品测试中的功能验证和协议测试,提供了一种较通用的人机界面和快捷方便的测试分析工具。

老化测试特性: 

Ø  脚本管理测试用例/底层协议,不需学习ARM/FPGA编程;

Ø  测试脚本可下载到主机,实现脱机自动测试并保存测试结果;

Ø  单板64个数字通道(可定制),2个可调电源,1个可调时钟;

Ø  电压可编程,0V~5.5V,精度+/-10mV;;

Ø  测试时钟可编程,20MHz;

Ø  测试脚本可编程;

Ø  固件缓存可存储10K条命令,支持循环命令,支持连续下载测试脚本;

Ø  固件含512条错误存储空间;

Ø  可在线调试;

Ø  独立模块设计,可支持多个模块组成系统并行测试;

Ø  可在线升级FPGA固件,以适用不同产品测试;

Ø  USB接口与PC机通信

 

 

主板功能:

本产品的主板主要包括ARM模块和FPGA模块,其中ARM负责与上位机通讯接受命令,FPGA负责与测试芯片通讯执行命令

以下主机示意图

 

IO口速率

1.ARM发送数据速率为1MHZ

2.ARM接收数据速率为0.5MHZ

3.芯片输入为1.28MHZ

4.IO输入输出速率可达20MHZ

 

测试算法

本产品针对芯片的测试可提供以下常用测试算法:

1.全片擦写为0

2.全片擦写为1

3.全片擦写为0X55

4.全片擦写为0XAA

5.正反对角线写1测试

 

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
上一篇 : 芯片可靠性测试    下一篇 :  自动化测试
网站首页 公司简介 产品中心 招聘中心 技术支持 企业动态 联系我们 管理登陆
赤松城(北京)科技有限公司专业提供老化测试等产品信息,欢迎来电咨询!
手机:13439569418 传真:86-10-62639854 地址:北京是海淀区中关村东路18号财智大厦B座805
GoogleSitemap ICP备案号: 京ICP备13050570号-3
在线客服